Microscopio elettronica a scansione (SEM) con microanalisi EDS

Tecnica

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) collegato ad un sistema microanalitico a dispersione di energia (EDS) consiste in uno strumento attraverso il quale è possibile condurre un’indagine di tipo non distruttivo e permette di ottenere informazioni di tipo morfologico e chimico puntuale. L’analisi chimica (microanalisi) sul campione e’ possibile utilizzando un rivelatore a dispersione di energia EDS.

Applicazioni

  • Osservazioni morfologiche di campioni di vario interesse
  • Microanalisi puntuali (qualitative o semi-quantitative) di materiali
  • Difettosità e contaminazione delle superfici
  • Mappe composizionali